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中华人民共和国国家标准 GB/T20870.1—2007/IEC60747-16-1:2001 半导体器件 第16-1部分: 微波集成电路 放大器 Semiconductor devices- Part 16-1 : Microwave integrated circuits—Amplifiers (IEC60747-16-1:2001,IDT) 2007-02-09发布 2007-09-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T 20870.1—2007/IEC 60747-16-1:2001 目 次 前言 范围 规范性引用文件 术语和定义 基本额定值和特性 4.1 总则 4.2应用说明 4.3功能规定 4.4极限值(绝对最大额定值体系) 4.5 工作条件(在规定工作温度范围内 4.6电特性 4.7 机械和环境额定值、特性和数据 4.8附加资料 测试方法 5. 1 5.2线性(功率)增益(Glm) 5.3线性(功率)增益平坦度(△Gl 5.4 功率增益(G) 5.5(功率)增益平坦度(AG) 5.6 (最大可用)增益控制范围(AGd) 5. 7 限幅输出功率(Pacn)、限幅输出功率平坦度(AP 5.8 输出功率(P。) 5. 9 1dB增益压缩输出功率(P 13 5.10 噪声系数(F) 5. 11 交调失真(P./P.)(双频) 5.12 截距点功率(对于交调产物)(PlP) 5.13输人反射系数的模(输入回波损耗)(Isul 18 5.14 输出反射系数的模(输出回波损耗)(Isnl 5.15 反向传输系数的模(隔离度)(|5121) 21 5.16 幅度调制对相位调制的转换系数(α 22 5.17 群延迟时间(ta(gm) 23 5. 18 功率附加效率(naa) 5. 19 n阶谐波失真比(Path/P,) 25 5.20 输出噪声功率(P%), 5.21 在规定负载电压驻波比下的杂散度(Psp 线性增益测试电路 图2 噪声系数的基本测试电路 图3 双频交调失真的基本测试电路
GB-T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器
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