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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210577469.6 (22)申请日 2022.05.25 (71)申请人 鞍钢集团北京研究院有限公司 地址 102211 北京市昌平区北京未来科技 城北区鞍钢未来钢铁 研究院内 (72)发明人 宋宝宇 成霄翔 宋君 王奎越 曹忠华 李芹芹 李彬周 (74)专利代理 机构 北京清亦华知识产权代理事 务所(普通 合伙) 11201 专利代理师 罗岚 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/764(2022.01) G06N 3/08(2006.01)G06N 3/04(2006.01) (54)发明名称 产品缺陷检测方法、 装置以及存 储介质 (57)摘要 本公开提出一种产品缺陷检测方法、 装置以 及存储介质, 包括: 获取待检测产品的图像; 从图 像中提取异常的第一图像块, 将第一图像块缓存 至第一缓冲池; 采用多个第一线程执行特征分类 模型对第一缓冲池中的第一图像块进行并行计 算, 以得到一级缺陷类型分类结果; 将一级缺陷 类型分类结果及对应的第一图像块缓存至第二 缓冲池; 根据一级缺陷类型分类结果和预设规 则, 从第二缓冲池缓存的第一图像块中确定第二 图像块; 采用多个第二线程执行深度分类模型对 第二缓冲池中的第二图像块进行并行计算, 以得 到二级缺陷类型分类结果; 将第二图像块对应的 一级缺陷类型分类结果与二级缺陷类型分类结 果进行比对, 以及根据比对结果, 确定待检测产 品存在的目标缺陷类型。 权利要求书2页 说明书11页 附图5页 CN 114881994 A 2022.08.09 CN 114881994 A 1.一种产品缺陷检测方法, 其特 征在于, 包括: 获取待检测产品的图像; 从所述图像中提取异常的第一图像块, 并将所述第一图像块缓存至第一缓冲池; 采用多个第一线程执行特征分类模型对所述第一缓冲池中的所述第一图像块进行并 行计算, 以得到一级缺陷类型分类结果; 将所述一级缺陷类型分类结果及对应的所述第一图像块缓存至第二缓冲池; 根据所述一级缺陷类型分类结果和预设规则, 从所述第 二缓冲池缓存的第 一图像块中 确定第二图像块; 采用多个第二线程执行深度分类模型对所述第二缓冲池中的所述第二图像块进行并 行计算, 以得到二级缺陷类型分类结果; 将所述第二图像块对应的所述一级缺陷类型分类结果与所述二级缺陷类型分类结果 进行比对, 得到比对 结果, 其中, 所述比对结果属于所述一级缺陷类型分类结果或者所述二 级缺陷类型分类结果; 以及 根据所述比对结果, 确定所述待检测产品存在的目标缺陷类型。 2.如权利要求1所述的方法, 其特征在于, 将所述第 二图像块对应的所述一级缺陷类型 分类结果与所述 二级缺陷类型分类结果进行比对, 包括: 确定所述第二图像块的一级缺陷类型分类结果中的第一类别可信度最大值; 在所述二级缺陷类型分类结果中已知缺陷类型的可信度之和大于设定 阈值的情况下, 确定所述 二级缺陷类型分类结果中的第二类别可信度最大值; 以及 将所述第一类别可信度最大值与所述第二类别可信度最大值进行对比。 3.如权利要求2所述的方法, 其特征在于, 根据所述比对结果, 确定所述待检测产品存 在的目标缺陷类型, 包括: 对所述比对结果进行可信度校验, 并根据校验结果确定所述待检测产品存在的目标缺 陷类型。 4.如权利要求3所述的方法, 其特征在于, 对所述比对结果进行可信度校验, 并根据校 验结果确定所述待检测产品存在的缺陷, 包括: 在所述比对结果属于所述一级缺陷类型分类结果的情况下, 将所述一级缺陷类型分类 结果中满足可信度大于等于设定阈值且可信度最大的缺陷类型作为所述目标缺陷类型; 或者 在所述比对结果属于所述二级缺陷类型分类结果的情况下, 将所述二级缺陷类型分类 结果中可信度最大的缺陷类型作为所述目标缺陷类型。 5.如权利要求1所述的方法, 其特征在于, 根据所述比对结果, 确定所述待检测产品存 在的目标缺陷类型之后, 还 包括: 根据所述待检测产品的生产特 征参数, 对所述目标缺陷类型进行判定 。 6.如权利要求1所述的方法, 其特征在于, 其中, 所述第 一线程的数量与处理器块数、 处 理器核数以及线程 运行系数相关, 并且所述第二线程的数量与所述第一线程的数量相关。 7.一种产品缺陷检测装置, 其特 征在于, 包括: 获取模块, 用于获取待检测产品的图像; 第一缓存模块, 用于从所述图像中提取异常的第一图像块, 并将所述第一图像块缓存权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 114881994 A 2至第一缓冲池; 第一计算模块, 用于采用多个第 一线程执行特征分类模型对所述第 一缓冲池中的所述 第一图像块进行并行计算, 以得到一级缺陷类型分类结果; 第二缓存模块, 用于将所述一级缺陷类型分类结果及对应的所述第 一图像块缓存至第 二缓冲池; 第一确定模块, 用于根据所述一级缺陷类型分类结果和预设规则, 从所述第二缓冲池 缓存的第一图像块中确定第二图像块; 第二计算模块, 用于采用多个第 二线程执行深度分类模型对所述第 二缓冲池中的所述 第二图像块进行并行计算, 以得到二级缺陷类型分类结果; 比对模块, 用于将所述第 二图像块对应的所述一级缺陷类型分类结果与所述二级缺陷 类型分类结果进行比对, 得到比对结果, 其中, 所述比对结果属于所述一级缺陷类型分类结 果或者所述 二级缺陷类型分类结果; 以及 确定模块, 用于根据所述比对结果, 确定所述待检测产品存在的目标缺陷类型。 8.如权利要求7 所述的装置, 其特 征在于, 所述比对 模块, 具体用于: 确定所述第二图像块的一级缺陷类型分类结果中的第一类别可信度最大值; 在所述二级缺陷类型分类结果中已知缺陷类型的可信度之和大于设定 阈值的情况下, 确定所述 二级缺陷类型分类结果中的第二类别可信度最大值; 以及 将所述第一类别可信度最大值与所述第二类别可信度最大值进行对比。 9.如权利要求8所述的装置, 其特 征在于, 所述确定模块, 具体用于: 对所述比对结果进行可信度校验, 并根据校验结果确定所述待检测产品存在的目标缺 陷类型。 10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质, 其中, 所述计算机指令用于 使所述计算机执 行根据权利要求1 ‑6中任一项所述的方法。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 114881994 A 3
专利 产品缺陷检测方法、装置以及存储介质
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