(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202222020483.4 (22)申请日 2022.08.02 (73)专利权人 钢研纳克江苏检测技 术研究院有 限公司 地址 215300 江苏省苏州市昆山市开发区 南浜路528号8号房 (72)发明人 于雷　史玉涛　张纯岩　屈华阳　 李宏伟　 (74)专利代理 机构 苏州周智专利代理事务所 (特殊普通 合伙) 32312 专利代理师 陶韬 (51)Int.Cl. G01N 21/63(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 用于大体积或贵重金属材料检测的直读光 谱激发台 (57)摘要 本实用新型公开了一种用 于大体积或贵重 金属材料检测的直读光谱激发台， 包括： 激发台 底座， 激发台底座通过绝缘座连接有电极； 激发 台中间板， 激发台中间板与激发台底座相连接， 且位于绝缘座的上方； 激发台中间板连接有U形 凸台， U形凸台设有配合绝缘座使用的开口； 上盖 与激发台中间板相连接， 上盖设有与U形凸台配 合使用的仿形结构， 仿形结构与U形凸台卡接连 接； 仿形结构设有配合电极使用的激发孔； 还包 括压块， 压块与上盖相连接， 压块连接有压样杆， 压样杆能够对放置在仿形结构的样品进行固定； 电极穿过底座、 激发台中间板和U形凸台并通过 激发孔对放置在仿形结构 U型凸台的样品进行激 发， 不仅减少了样品的损耗， 而 且减少分析成本 。 权利要求书1页 说明书4页 附图4页 CN 217846071 U 2022.11.18 CN 217846071 U 1.一种用于大体积或贵重金属材 料检测的直读光谱激发台， 其特 征在于， 包括： 激发台底座(1)， 所述激发台底座(1)通过绝 缘座(11)连接有电极(12)； 激发台中间板(2)， 所述激发台中间板(2)与所述激发台底座(1)相连接， 且位于所述绝 缘座(11)的上方； 所述激发台中间板(2)连接有U形凸台(21)， 所述U形凸台(21)设有配合所 述绝缘座(11)使用的开口(2 2)； 上盖(3)， 所述上盖(3)与所述激发台中间板(2)相连接， 所述上盖(3)设有与所述U形凸 台(21)配合使用的仿形结构(31)， 所述仿形结构(31)与所述U形凸台(21)卡接连接； 所述仿 形结构(31)设有配合所述电极(12)使用的激发孔(32)； 还包括压块(4)， 所述压块(4)与所述上盖(3)相 连接， 所述压块(4)连接有压样杆(5)， 所述压样杆(5)能够对放置在仿形结构(31)的样 品进行固定； 所述电极(12)穿过所述激发 台底座(1)、 激发台中间板(2)和U形凸台(21)， 并通过所述激发孔(32)对放置在仿形结构 (31)的样品进行激发。 2.根据权利要求1所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述激发台 中间板(2)与所述U形凸台(21)为 一体成型 结构。 3.根据权利要求1所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述上盖(3)与所述仿形 结构(31)为 一体成型 结构。 4.根据权利要求1所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述激发台中间板(2)的底部设有一圆形槽(26)， 所述开口(22)的内壁设有横向槽 (24)， 所述横向槽(24)与所述圆形槽(26)相连通。 5.根据权利要求4所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述激发台底座(1)设有与所述圆形槽(26)相配合使用的贯穿槽(14)， 所述贯穿槽 (14)与所述圆形槽(26)相对应。 6.根据权利要求5所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述 贯穿槽(14)连接有气嘴(15)。 7.根据权利要求1所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述开口(22)的外侧设有第一密封槽(23)， 所述U形凸台(21)设有第二密封槽(25)， 所述第一密封 槽(23)与第二密封 槽(25)相连通。 8.根据权利要求7所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述第一密封 槽(23)和第二密封 槽(25)连接有密封 垫。 9.根据权利要求1所述的用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发台， 其特征 在于， 所述U形凸台(21)的高度等于所述仿形 结构(31)的深度。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217846071 U 2用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱 激发台 技术领域 [0001]本实用新型涉及直读光谱制样及成分测定技术领域， 具体涉及 一种用于大体积或 贵重金属材 料检测的直读光谱激发台。 背景技术 [0002]直读光谱法通常是指以火花、 电弧、 辉光或几种混合光源作为激发能量来源对固 体金属材料成分进行直接分析且激发结束后直接得到材料中所含各种元素成分的光谱分 析方法。 直读光谱法广泛应用于黑色及有色金属的冶金、 铸造、 机械、 金属加工等领域的生 产过程控制、 中心实验室成品检测等， 具有制样简单、 分析快速、 多元素同时分析等特点， 2 分钟内即可完成制样和测定全过程， 而且可以同时得到金属中的主量元素、 合金元素和金 属、 非金属杂质元 素的含量。 [0003]传统的直读光谱样品制备方法是用光谱磨样机、 砂轮机、 砂带机、 车床、 铣床、 磨床 等设备在待分析的金属样品表面整体加工出一个具有一定粗糙度的平面。 对于体积 较大的 样品为了便于加工和激发， 往往需要先用切割机将样品切割成小块后再进行加工。 但对于 一些价值较高的贵重金属样品， 如果整体加工或切割样品则会消 耗大量样品， 延长制样时 间， 增大分析成本 。 实用新型内容 [0004]为解决上述技术问题， 本实用新型提供了一种用于大体积或贵重金属材料检测的 直读光谱激发台， 采用该激发台能够对价值较高或者体积较大的金属样品进行激发处理， 避免对样品的大面积加工或切割从而减少样品的损耗， 同时减少分析成本 。 [0005]本实用新型的技术方案是： 一种用于大体积或贵重金属材料检测的直读光谱激发 台， 包括： [0006]激发台底座， 所述激发台底座 通过绝缘座连接有电极； [0007]激发台中间板， 所述激发台中间板与所述激发台底座相 连接， 且位于所述绝缘座 的上方； 所述激发台 中间板连接有 U形凸台， 所述U形凸台设有配合所述 绝缘座使用的开口； [0008]上盖， 所述上盖与所述激发台中间板相连接， 所述上盖设有与所述U形凸台配合使 用的仿形结构， 所述仿形结构与所述U 形凸台卡接连接； 所述仿形结构设有配合所述电极使 用的激发孔； [0009]还包括压块， 所述压块与所述上盖相连接， 所述压块连接有压样 杆， 所述压样杆能 够对放置在仿形结构的样品进 行固定； 所述电极穿过所述激发 台底座、 激发台中间板和U 形 凸台， 并通过 所述激发孔对放置在仿形 结构的样品进行激发。 [0010]进一步的， 所述激发台 中间板与所述U形凸台为 一体成型 结构。 [0011]进一步的， 所述上盖与所述仿形 结构为一体成型 结构。 [0012]进一步的， 所述激发台中间板的底部设有一圆形槽， 所述开口的内壁设有横向槽， 所述横向槽与所述圆形槽相连通。说　明　书 1/4 页 3 CN 217846071 U 3